1
مسئول دپارتمان نانومترولوژی / شرکت آریا فن ورزان
2
کارشناس نانو مترولوژی / شرکت آریا فن ورزان
چکیده
طیف سنجی رامان به عنوان یک تکنیک قدرتمند غیر مخرب در بین تمام تکنیکهای تحلیلی موجود شناخته شده است که از پراکندگی غیر الاستیک بین فوتونهای نور فرودی و مولکولها ناشی میشود. با استفاده از طیف سنجی رامان میتوان از ویژگیهای منحصر به فرد مانند ترکیب مولکولی، برهمکنش مولکولی، تجزیه و تحلیل فاز، خصوصیات چند شکلی و بلورینگی بدون نیاز به آمادهسازی نمونه اطلاع یافت. ترکیب طیفسنجی رامان با تمام ویژگیهای ذکر شده و تکنیک میکروسکوپی، یک تکنیک جدید است که میتواند اطلاعات ارزشمندی را نه تنها از سطح نمونه بلکه از عمق نمونه ارائه دهد، این تکنیک میکروسکوپ رامان کانفوکال است که به طور گستردهای به عنوان یکی از مهمترین ابزار تحلیلی در دهه گذشته مورد استفاده قرار گرفته است. با استفاده از این تکنیک علاوه بر بزرگنمایی بالای نمونه و تجزیه و تحلیل رامان با نقطه اثر لیزری، آنالیز عمقی نمونه قابل دستیابی خواهد بود. میکروسکوپ رامان کانفوکال در بسیاری از زمینههای مختلف از جمله علم مواد، پلیمرها، فیلمهای نازک، نیمه هادیها، ویژگیهای گرافن/کربن، داروسازی، لوازم آرایشی و بهداشتی، پزشکی قانونی، زمینشناسی، کانیشناسی و علوم زیستی استفاده میشود. در این مقاله تئوری طیف سنجی رامان بصورت مختصر مرور شده است سپس مکانیزم میکروسکوپ رامان کانفوکال مورد بحث قرار گرفته است. انتظار میرود که آشنایی با این تکنیک منجر به درک مفیدی از ویژگیهای فیزیکی و شیمیایی ترکیبات آلی و معدنی شود.